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電子部品における故障解析の進め方と不具合原因究明への取り組み方

故障解析の種類と進め方、良品解析の有効性と取り組み事例、HALTなどを活用した不具合原因究明

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イベント概要

不良が起こる原因を究明し、不具合発生の再発防止に活かすための講座!

故障解析、良品解析の手法やHALT試験の活用法を学び、不具合の再発防止や品質管理に活かそう!

開催日時 2018/12/04 (火) 10:30 ~ 17:30
会場

新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F (東京都)

会場住所 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F
料金 48,600円
定員 20人
Webページ http://www.j-techno.co.jp/
ジャンル 電子機器 & 家電/AV
タグ

故障解析 良品解析 原因究明 リコール 信頼性 故障モード 故障メカニズム