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機械学習・ディープラーニングによる外観検査技術とその応用

~ 画像認識技術の概要、欠陥検査技術、機械学習による外観検査アルゴリズム開発のポイント、CNNによる自動検査手法 ~

イベント概要

・機械学習を用いた画像認識技術とその外観検査への活用技術を修得するための講座
・機械学習・ディープラーニングを外観検査に応用し、精度の高い目視検査自動化を実現しよう!

開催日時 2019/11/20 (水) 10:30 ~ 17:30
会場

新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F (東京都)

会場住所 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F
料金 49,500円
定員 20人
Webページ http://www.j-techno.co.jp/
ジャンル 電子機器 & 家電/AV
タグ

外観検査 ディープラーニング 機械学習 物体認識 特徴量