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電子部品の信頼性試験と市場故障率の推定および品質保証への活かし方

~ 信頼性試験結果の解析手順、信頼性の作り込み、試験結果からの寿命予測、検査結果に対する管理基準の調整 ~

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イベント概要

・「耐用年数を満足していることを検証する信頼性試験計画」と「市場故障率の推定法」を修得し、製品の信頼性確保に活かすための講座
・信頼性試験計画と実施および試験結果の解析を適用に行ない、市場品質や耐用寿命に対応した製品設計の品質保証へ活かそう!

開催日時 2019/07/12 (金) 10:30 ~ 17:30
会場

新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F (東京都)

会場住所 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F
料金 48,600円
定員 20人
Webページ http://www.j-techno.co.jp/
ジャンル 電子機器 & 家電/AV
タグ

検査 寿命予測 信頼性・故障解析 品質管理 車載機器・部品 電子部品