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深層学習による外観検査技術の基礎と欠陥検出への応用

~ 機械学習アルゴリズムの種類と特徴、教師あり学習、教師なし学習、CNNの適用、欠陥サイズの推定方法による外観検査技術への応用 ~

イベント概要

・深層学習アルゴリズムのトレーニング方法をもとにAIを活用した外観検査の手法を修得する講座

・トレーニングに必要な分の画像データの作成方法を習得し、深層学習による精度の高い外観検査技術に応用しよう!

開催日時 2020/06/18 (木) 10:30 ~ 17:30
会場

新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F (東京都)

会場住所 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F
料金 49,500円
定員 20人
Webページ http://www.j-techno.co.jp/
ジャンル 電子機器 & 家電/AV
タグ

人工知能 機械学習 深層学習 教師有り学習 教師なし学習 外観検査 欠陥サイズ推定 畳み込みニューラルネットワーク 画像処理 欠陥検出 AI