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面発光レーザ(VCSEL)の故障解析と寿命予測および信頼性向上のポイント

~ 発光デバイスにおける3種類の劣化モード、故障(劣化)解析事例、劣化低減への方策 ~

イベント概要

・講師の永年にわたる豊富なデータに基づいたVCSELチップ、VCSEL搭載モジュールの信頼性向上のためのポイントやノウハウを修得するための講座
・発光デバイスの高信頼化の鍵を握る劣化解析や劣化メカニズムを修得し、劣化対策技術に活かし、信頼性の高い製品開発に応用しよう!

開催日時 2019/12/19 (木) 10:30 ~ 17:30
会場

新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F (東京都)

会場住所 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル22F
料金 49,500円
定員 20人
Webページ http://www.j-techno.co.jp/
ジャンル 仕事の改善/ライフハック
タグ

寿命予測 信頼性・故障解析 光学 電子部品 LED・有機EL・照明